TZTEK의 마스크 검출은 마스크의 통계적 유형의 결함을 검출하는 Die-to-Die 방법을 사용합니다. 이 시스템은 전력
반도체, LED및 MEMS 분야에서 웨이퍼 제조에 사용되는 Mask를 모니터링 하는데 사용됩니다.
TZTEK의 시스템은 Mask 상태, 세정 또는 교체의 필요 여부를 결정 하는데 사용됩니다.
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